北京
国家知识产权局信息显示，北京和利时技术研究院有限公司申请一项名为“一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质”的专利，公开号CN121579344A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本申请涉及软件测试技术领域，提供了一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法响应于针对待测试接口的测试指令，为待测试接口确定至少两个测试规则库；将待测试接口的属性信息与至少两个测试规则库中的规则进行匹配，以确定待测试接口对应的目标测试规则；根据目标测试规则为待测试接口生成测试用例，并基于测试用例对待测试接口进行测试，得到测试结果，本申请通过自动生成目标测试规则及对应测试用例，实现接口测试过程的自动化与智能化，无需测试人员手动编写或组合参数，显著减少人工参与度，从而有效降低测试工作量并提升接口测试效率与测试效果，避免了现有技术中，接口测试效率低下，且测试效果差的问题。
天眼查资料显示，北京和利时技术研究院有限公司，成立于2024年，位于北京市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本50000万人民币。通过天眼查大数据分析，北京和利时技术研究院有限公司专利信息16条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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