国家知识产权局信息显示,北京和利时技术研究院有限公司申请一项名为“一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质”的专利,公开号CN121579344A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本申请涉及软件测试技术领域,提供了一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法响应于针对待测试接口的测试指令,为待测试接口确定至少两个测试规则库;将待测试接口的属性信息与至少两个测试规则库中的规则进行匹配,以确定待测试接口对应的目标测试规则;根据目标测试规则为待测试接口生成测试用例,并基于测试用例对待测试接口进行测试,得到测试结果,本申请通过自动生成目标测试规则及对应测试用例,实现接口测试过程的自动化与智能化,无需测试人员手动编写或组合参数,显著减少人工参与度,从而有效降低测试工作量并提升接口测试效率与测试效果,避免了现有技术中,接口测试效率低下,且测试效果差的问题。
天眼查资料显示,北京和利时技术研究院有限公司,成立于2024年,位于北京市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本50000万人民币。通过天眼查大数据分析,北京和利时技术研究院有限公司专利信息16条,此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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