北京
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国家知识产权局信息显示，陶朗分选有限责任公司申请一项名为“用于分析物品的检查设备和方法”的专利，公开号CN121532636A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，一种用于通过以下方式检测和分析存在于检查区（104）中的电磁可激发物品（102）的方法和检查设备：用激发光辐射（151）和照射光辐射（152）辐照物品，同时基本上阻止（128）所产生的一范围的光辐射到达待检查的物品；其中在所阻止的波长范围（152，154）内的光辐射用于校准检查系统。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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