国家知识产权局信息显示,陶朗分选有限责任公司申请一项名为“用于分析物品的检查设备和方法”的专利,公开号CN121532636A,申请日期为2024年7月。
专利摘要显示,一种用于通过以下方式检测和分析存在于检查区(104)中的电磁可激发物品(102)的方法和检查设备:用激发光辐射(151)和照射光辐射(152)辐照物品,同时基本上阻止(128)所产生的一范围的光辐射到达待检查的物品;其中在所阻止的波长范围(152,154)内的光辐射用于校准检查系统。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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