北京
国家知识产权局信息显示，淮安市中亚试验设备有限公司申请一项名为“一种半导体老化试验箱及其试验方法”的专利，公开号CN121522408A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明涉及半导体老化试验技术领域，具体为一种半导体老化试验箱及其试验方法，用于对待测器件施加模拟工作环境和进行电参数监测，包括箱体、隔板、冷盒和分配板，所述冷盒与安装在隔板上的待测器件相对，所述分配板将冷盒的内腔分隔为高压层和制冷层，所述高压层相对制冷层远离隔板，且高压层连通制冷液，制冷液通过镂空的所述分配板高压射入制冷层，通过调整所述分配板局部的孔洞数量和孔洞大小适应待测器件相应区域的发热功率。本发明通过定制化分配板与柱板，依据器件发热功率在相应区域配置不同密度的喷口与柱体的方式，实现了半导体上非均匀热量按需散热的目的，以在避免局部过热的同时避免了低发热区的超幅降温。
天眼查资料显示，淮安市中亚试验设备有限公司，成立于2003年，位于淮安市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本1166万人民币。通过天眼查大数据分析，淮安市中亚试验设备有限公司参与招投标项目47次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息37条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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