北京
国家知识产权局信息显示，武汉光谷信息光电子创新中心有限公司申请一项名为“测试装置及测试方法”的专利，公开号CN121522411A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本公开实施例提供一种测试装置及测试方法。上述测试装置包括：U型波导，U型波导包括第一端部和第二端部；第一耦合器和沿第一方向延伸的第一直波导，第一直波导沿第一方向相对设置的两侧分别和第一耦合器、第一端部耦接；第二耦合器和沿第一方向延伸的第二直波导，第二直波导沿第一方向相对设置的两侧分别和第二耦合器、第二端部耦接；第三耦合器和沿第一方向延伸的第三直波导，第三直波导沿第一方向相对设置的两侧分别和第三耦合器、待测光电探测器耦接；其中，沿第一方向，第一直波导、第二直波导和第三直波导的尺寸相同，第一耦合器、第二耦合器和第三耦合器相同，上述测试装置用于测试待测光电探测器的响应度。
天眼查资料显示，武汉光谷信息光电子创新中心有限公司，成立于2017年，位于武汉市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本16000万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉光谷信息光电子创新中心有限公司参与招投标项目121次，财产线索方面有商标信息8条，专利信息357条，此外企业还拥有行政许可5个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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