北京
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国家知识产权局信息显示，无锡市锡山区半导体先进制造创新中心;江苏优普纳科技有限公司申请一项名为“一种影响工件表面粗糙度测量精度的因素确定方法”的专利，公开号CN121503104A，申请日期为2023年9月。
专利摘要显示，本发明涉及计算机领域，具体公开了一种影响工件表面粗糙度测量精度的因素确定方法，包括：响应于设定工件表面粗糙度的操作，基于所设定的粗糙度，利用蒙特卡罗法生成工件表面的一维剖面，并以二维圆形模拟颗粒物，构建基于机器视觉测量工件表面粗糙度的二维有限元仿真模型；响应于设定颗粒物参数和/或光源参数的操作，对构建的二维有限元仿真模型进行仿真，获取能量采集边界的光波能量数据；基于在不同参数下获得的光波能量数据，确定影响工件表面粗糙度测量精度的因素。可见，本发明提供了一种确定影响工件表面粗糙度测量精度的因素的方法，如此便可通过减少环境因素对机器视觉测量的影响，来提高利用机器视觉测量工件表面粗糙度的精度。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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