国家知识产权局信息显示,华设检测科技有限公司、华设设计集团股份有限公司、扬州市公路事业发展中心申请一项名为“一种基于多级校验分类的区域尺度轴载谱测定方法及系统”的专利,公开号CN121502528A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本发明公开了一种基于多级校验分类的区域尺度轴载谱测定方法及系统。该方法包括:采集多个站点的轴载数据与交调数据;对采集数据执行数据完整性、轴载参数逻辑性和跨站点一致性校验,筛选出满足谱图计算条件的站点组合;在此基础上,识别区域内主要车型,提取有效数据并计算方向系数、车道系数、车型分布系数与轴重分布系数,绘制轴载谱图;进一步地,基于历史测定数据与交通运行特征,预测下一周期的轴载谱变化趋势。本发明有效规避了现有技术中依赖图示进行模糊分类导致的分类精度低、主观性强等缺陷,及单一端口数据易受设备误差、环境干扰影响而产生偏差的问题,提升了轴载谱的可靠性与准确性,适用于道路结构分析与荷载仿真等多种工程场景。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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