北京
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国家知识产权局信息显示，半导体元件工业有限责任公司申请一项名为“用于栅极阈值电压测量的系统和方法”的专利，公开号CN121500050A，申请日期为2024年10月。
专利摘要显示，本公开涉及用于栅极阈值电压测量的系统和方法。公开了一种测量电路。该测量电路可包括电流源，该电流源被配置为向晶体管的漏极端子提供电流。该测量电路还可包括电压测量电路，该电压测量电路被配置为测量该晶体管的漏极‑源极电压。该测量电路可进一步包括调节器电路。该调节器电路可被配置为从该电压测量电路接收指示该晶体管的该漏极‑源极电压的电压测量信号，并且基于该晶体管的该漏极‑源极电压来调节该晶体管的栅极‑源极电压。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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