北京
国家知识产权局信息显示，深圳市达芯半导体科技有限公司申请一项名为“一种面阵探测器热时间常数快速标定方法”的专利，公开号CN121475430A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开了一种面阵探测器热时间常数快速标定方法，包括以下步骤：S1、构建标定系统，用于生成均匀面阵激励、采集瞬态信号并反演热时间常数；S2、标定系统输出波长的脉冲红外光，对面阵探测器进行均匀热激励；S3、使用高速数据采集卡采集探测器各像素不同时间值下的温度‑电压瞬态曲线，生成预处理数据集；S4、构建多阶热阻网络反演模型，输入瞬态曲线数据集，输出当前待标定探测器的像素级热时间常数集；S5、基于当前待标定探测器的像素级热时间常数集，结合同批次已标定探测器的热时间常数统计数据，实现量产线当前待标定探测器的合格性筛选。本发明具有量产线面阵探测器热时间常数快速标定与合格性筛选的优点。
天眼查资料显示，深圳市达芯半导体科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市达芯半导体科技有限公司专利信息12条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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