北京
国家知识产权局信息显示，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司申请一项名为“一种基于自监督学习算法的晶圆缺陷检测方法及装置”的专利，公开号CN121414709A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本申请公开了一种基于自监督学习算法的晶圆缺陷检测方法及装置，可应用于半导体检测技术领域，该方法包括获取目标标注数据；目标标注数据为目标晶圆所对应的已标注数据；基于目标标注数据对通用检测模型的添加网络层进行训练，并得到目标检测模型；通用检测模型是基于无标注数据，通过自监督算法训练得到的；基于目标检测模型对目标晶圆进行缺陷检测，并得到检测结果。如此，不改变通过无标注数据训练得到通用检测模型，仅通过目标标注数据对通用检测模型的添加网络层进行训练从而得到目标检测模型，进而通过目标检测模型对目标晶圆进行缺陷检测，在保证晶圆缺陷检测的准确性的同时提高了晶圆缺陷检测的灵活性。
天眼查资料显示，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司，成立于2024年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，飞测思凯浦（上海）半导体科技有限公司参与招投标项目2次，专利信息7条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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