北京
国家知识产权局信息显示，深圳市奥宇达电子有限公司申请一项名为“一种基于微波频率晶体谐振器的缺陷检测方法及系统”的专利，公开号CN121410006A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于微波频率晶体谐振器的缺陷检测方法及系统，包括：通过微波频率晶体谐振器阵列构成微波探头，将待检测材料置于其下方，在材料表面设定扫描区域及两方向扫描步长；控制探头按步长逐点扫描，采集各采样点复数反射系数组成回波信号矩阵；对矩阵进行奇异值分解，对第一、第二奇异值施加可调系数并据成像质量自适应选取最优系数重构回波信号；对重构矩阵做二维傅里叶变换并结合探头间距和缺陷深度构造空间滤波器进行相位补偿，经二维傅里叶反变换得到缺陷图像，对其阈值分割获得仅含缺陷的二值图像，连通区域分析得到各缺陷重心位置及由像素数和单像素面积确定的缺陷面积。本发明可以解决现有微波检测中存在的杂波干扰严重、缺陷成像对比度不足以及缺陷尺寸难以定量评估等问题。
天眼查资料显示，深圳市奥宇达电子有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市奥宇达电子有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息19条，专利信息21条，此外企业还拥有行政许可4个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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