北京
国家知识产权局信息显示，迪优未来科技（清远）有限公司申请一项名为“一种基于注意力机制与门控聚合特征金字塔的Micro-LED缺陷检测方法及装置”的专利，公开号CN121391715A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明涉及一种基于注意力机制与门控聚合特征金字塔的Micro‑LED缺陷检测方法，包括以下步骤：S1：获取Micro‑LED芯片表面图像，并进行预处理得到预处理后的图像；S2：对预处理后的图像，通过RFCBAMConv模块提取注意力增强特征得到提取的特征；S3：将提取的特征输入门控聚合特征金字塔即CAAGA‑HSFPN模块进行多尺度融合得到融合结果；S4：基于所述融合结果通过轻量化Conv3XCC3解码头实现缺陷的实时检测与分类。本发明能够有效提高Micro‑LED外观缺陷检测的精度、鲁棒性和实时性，进而提升检测效率和准确性，适应复杂生产环境下的动态变化，满足大规模生产中的自动化、高效、精确检测需求。
天眼查资料显示，迪优未来科技（清远）有限公司，成立于2020年，位于清远市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本300万人民币。通过天眼查大数据分析，迪优未来科技（清远）有限公司财产线索方面有商标信息3条，专利信息24条，此外企业还拥有行政许可3个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
