北京
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国家知识产权局信息显示，超威半导体公司申请一项名为“主机到设备接口电路测试”的专利，公开号CN121359204A，申请日期为2024年6月。
专利摘要显示，一些具体实施提供了用于集成电路自测试的系统、方法和设备。该集成电路包括接口电路，该接口电路被配置为读取测试数据并且将测试数据写入集成电路的存储器中。该集成电路还包括测试电路，该测试电路被配置为基于写入集成电路的存储器中的测试数据来测试接口电路。一些具体实施提供了一种被配置用于存储和读取数据的集成电路。该集成电路包括电路，该电路被配置为经由第一存储器的BIST电路向第一存储器写入或从第一存储器读取数据的第一部分，直到第一BIST计数器饱和。该集成电路还包括电路，该电路被配置为经由第二存储器的BIST电路向第二存储器写入或从第二存储器读取数据的第二部分，直到第二BIST计数器饱和。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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