北京
国家知识产权局信息显示，合肥晶合集成电路股份有限公司申请一项名为“测试结构、静态随机存取存储器单元的失配认定方法”的专利，公开号CN121281606A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请提供了一种测试结构、静态随机存取存储器单元的失配认定方法，测试结构包括：静态随机存取存储器单元，包括第一传输晶体管和第二传输晶体管；量测单元，包括连接第一位线的第一量测晶体管和连接第二位线的第二量测晶体管；其中，第一量测晶体管用于在第一存储节点为高电平，且第二存储节点为低电平的情况下作为电阻使用，以量测出第一目标电流；第二量测晶体管用于在第一存储节点为低电平，且第二存储节点为高电平的情况下作为电阻使用，以量测出第二目标电流；在第一目标电流与第二目标电流不一致的情况下，静态随机存取存储器单元被认定存在失配。如此，可以在占用较少面积的情况下，实现静态随机存取存储器单元的失配认定。
天眼查资料显示，合肥晶合集成电路股份有限公司，成立于2015年，位于合肥市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本200613.5157万人民币。通过天眼查大数据分析，合肥晶合集成电路股份有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目634次，财产线索方面有商标信息41条，专利信息1545条，此外企业还拥有行政许可22个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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