北京
国家知识产权局信息显示，苏州尼硕库电子科技有限公司申请一项名为“芯片温湿度老化测试系统”的专利，公开号CN121276291A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明公开了芯片温湿度老化测试系统，本发明涉及芯片的温湿度老化测试领域，包括核心控制与数字孪生融合模块、立体式温湿度场主动构建模块、多物理场耦合应力加载模块、能量自适配供给模块、全生命周期数据溯源与智能评估模块。本发明所述的芯片温湿度老化测试系统，通过核心控制与数字孪生融合模块，能实现芯片跨尺度、含工艺偏差的数字孪生建模，以及数字预演、物理测试、反馈调控的深度闭环，能够提前预判老化关键节点，精准指导物理测试，大幅提升测试的前瞻性与精准度；立体式温湿度场主动构建模块可以打造分层精准调控与动态流场驱动的立体非均匀温湿度场，更贴近芯片实际应用中的热湿分布与气流扰动场景，让温湿度应力模拟更真实。
天眼查资料显示，苏州尼硕库电子科技有限公司，成立于2021年，位于苏州市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本300万人民币。通过天眼查大数据分析，苏州尼硕库电子科技有限公司专利信息21条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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