北京
国家知识产权局信息显示，胜达克半导体科技（上海）股份有限公司申请一项名为“开短路测试程序自动化生成方法、系统及开短路测试机”的专利，公开号CN121254034A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明涉及半导体测试技术领域，尤其是指开短路测试程序自动化生成方法、系统及开短路测试机，所述方法包括：基于开短路测试机与待测芯片进行硬件连接的测试通道，生成通道映射表以明确芯片引脚与测试机通道对应关系；对映射表中每路芯片引脚执行多维度分类，得到含正常、特殊特性及各类异常引脚的结果；依分类结果及非故障引脚类型与预设测试项的对应关系，自动生成测试程序。本发明无需预知芯片引脚规格，以三级架构与多轮分类算法解决传统方法测试未知引脚特性芯片效率低、易出错的问题，且自动化程度高、测试精准、适配范围广，能满足不同测试场景需求。
天眼查资料显示，胜达克半导体科技（上海）股份有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本4526.3096万人民币。通过天眼查大数据分析，胜达克半导体科技（上海）股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息73条，此外企业还拥有行政许可7个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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