北京
国家知识产权局信息显示，赛米微尔半导体（上海）有限公司申请一项名为“一种高频二极管导电损耗特性测试系统”的专利，公开号CN121231974A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种高频二极管导电损耗特性测试系统，该系统包括：获取模块、第一判定模块、第二判定模块、第一确定模块、第二确定模块、调整模块以及输出模块。本发明通过采集多重关键数据，先根据正向电压、反向恢复电荷快速筛查，再引入壳体温度分析识别参数动态关联性异常的隐性缺陷，最终得到高损耗二极管；进而利用高损耗二极管的时空分布特征识别趋势异常，并通过空洞率波动模式精确检测损耗原因；同时基于测试准确率反馈的自适应调整机制，最后输出测试报告，有效解决了由于过于依赖静态参数和无法适应复杂多变的工况导致的高损耗二极管识别准确度低和损耗原因检测精准度低的问题。
天眼查资料显示，赛米微尔半导体（上海）有限公司，成立于2015年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本1400.1万人民币。通过天眼查大数据分析，赛米微尔半导体（上海）有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息9条，专利信息36条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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