北京
国家知识产权局信息显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司申请一项名为“半导体图像重建方法及其装置、半导体缺陷检测方法”的专利，公开号CN121213479A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本公开提供了一种半导体图像重建方法及其装置、半导体缺陷检测方法，涉及半导体领域，其中方法包括：基于图像采集装置构建物理退化模型；基于图像采集装置使用物理退化模型对机器学习模型进行优化，其包括：获取图像采集装置采集的优化用原始图像；将优化用原始图像输入机器学习模型得到优化用重建图像；将优化用重建图像输入物理退化模型得到优化用预测图像；基于优化用原始图像和优化用预测图像之间的物理一致性损失，优化机器学习模型的参数，得到优化后的机器学习模型；使用图像采集装置采集检测用原始图像，将检测用原始图像输入优化后的机器学习模型，得到检测用重建图像。改善相关技术中半导体重建图像容易出现光学伪影等的失真问题。
天眼查资料显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司参与招投标项目1次，专利信息5条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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