北京
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国家知识产权局信息显示，JCET星科金朋韩国有限公司申请一项名为“探针卡和测试设备”的专利，公开号CN121208403A，申请日期为2024年6月。
专利摘要显示，本申请提供了一种探针卡和测试设备。所述探针卡可以包括：基板；多个探针，所述多个探针附接于所述基板上并且被配置成与被测半导体装置的导电焊盘接触，其中所述多个探针包括被配置成与所述半导体装置的接地焊盘接触的接地探针和被配置成与所述半导体装置的信号焊盘接触的信号探针；以及附接于所述基板上的至少一个滤波器，其中所述至少一个滤波器与所述信号探针电耦接，并且被配置成消除从所述信号探针接收的干扰信号。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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