北京
国家知识产权局信息显示，鼎道智芯（上海）半导体有限公司申请一项名为“一种测试用例生成方法、装置及电子设备”的专利，公开号CN 121051026 A，申请日期为2025年9月。专利摘要显示，本申请公开了一种测试用例生成方法、装置及电子设备，该方法包括：基于测试需求，利用第一验证语言创建用于配置待测试硬件环境的目标序列，目标序列配置了第二编程语言对应的测试用例运行所需的初始硬件上下文信息；基于目标序列，生成初始测试用例集合；初始测试用例集合为基于第二编程语言生成的，可执行于待测试硬件上的测试程序集合；在初始测试用例集合中每个初始测试用例的仿真运行过程中，获得每一初始测试用例的测试特征参数，测试特征参数至少包括功能覆盖参数和运行时间参数；基于每一初始测试用例的测试特征参数，在初始测试用例集合中确定目标测试用例集合。
天眼查资料显示，鼎道智芯（上海）半导体有限公司，成立于2022年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本126300万人民币。通过天眼查大数据分析，鼎道智芯（上海）半导体有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息1条，专利信息345条，此外企业还拥有行政许可4个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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