激光粒度仪(aser Partice Size Anayzer)是一种基于光散射原理测量颗粒大小分布的仪器,其核心是通过分析颗粒对激光的散射信号来反推粒径分布。以下是其测量原理的详细解析:
1. 基本理论:米氏散射与夫琅禾费衍射
激光粒度仪的测量基于两种光学理论:
米氏散射(Mie Scattering)
适用于所有粒径范围(尤其是亚微米至数百微米),考虑颗粒的折射率(实部和虚部)、激光波长及散射角度的完整电磁波散射理论。
关键参数:需输入样品和分散介质的折射率(如水的折射率1.33,常见颗粒如Si?约1.46~1.55)。
优势:对小颗粒(<1μm)和高精度测量至关重要。
夫琅禾费衍射(Fraunhfer Diffractin)
简化模型,假设颗粒不透明且远大于激光波长(通常>10μm),仅考虑衍射效应,无需折射率参数。
适用场景:大颗粒快速测量,但精度低于米氏理论。
2. 测量系统组成
激光粒度仪通常包含以下模块:
激光光源:稳定的632.8nm He-Ne激光(如美国马尔文粒度仪)或632.8nm半导体激光(如德国FRITSCH飞驰粒度仪)。
光学透镜组:扩束镜、傅里叶透镜等,用于形成平行光并聚焦散射光。
探测器阵列:
前向探测器(小角度):捕捉大颗粒的衍射光(主信号区)。
侧向/后向探测器(大角度):检测小颗粒的散射光(增强小颗粒分辨率)。
样品分散系统:
湿法:循环泵、超声分散器(如飞驰FRITSCH A-22)。
干法:气流分散(如新帕泰克Hes,FRITSCH A-22采用文丘里设计)。
3. 测量流程
样品制备
颗粒需均匀分散在介质中(如水、乙醇),避免团聚。
湿法需控制遮光度(通常10%~20%),干法则需调节气压分散。
激光照射与散射
激光穿过样品池,颗粒散射光形成特定角度分布的能量图案。
信号采集
探测器阵列记录不同角度的散射光强,转换为电信号。
数据反演
通过反演算法(如非负最小二乘法NNS)将散射光强分布转换为粒径分布(D10/D50/D90)。
软件基于米氏/夫琅禾费模型计算,并显示体积/数量加权分布。
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4. 关键影响因素
折射率设置:错误值会导致小颗粒结果偏差(如金属颗粒需输入复数折射率)。
分散质量:团聚体会被误判为大颗粒,需超声或分散剂处理。
背景校正:扣除介质和池壁的散射本底。
仪器校准:定期用标准物质(如NIST可溯源乳胶球)验证(比如FRITSCH生产的标物均为NIST可溯源标物)。
5. 应用范围与限制
粒径范围:通常0.01~3500μm(不同型号差异大)。
适用样品:粉体、乳液、悬浮液等,但需满足光学透明性(不适用于高浓度或不透明体系)。
局限性:
无法区分形状差异(假设颗粒为球形)。
对纳米颗粒(<100nm)需动态光散射(DS)辅助。
6. 与其他技术的对比
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总结
激光粒度仪通过散射光角度分布与强度的数学反演实现快速、非接触的粒径分析,其精度依赖于光学模型、仪器校准及样品分散状态。理解原理有助于优化测试条件并合理解读数据。
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