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美国初创公司 Substrate 的 X 射线光刻技术研发进展
美国初创公司 Substrate 正在研发一款新型 X 射线光刻(XRL)系统,该系统采用基于粒子加速器的光源。相比传统极紫外(EUV)光刻技术,这款新系统有望实现更卓越的性能与成本效率,目标是达到与阿斯麦(ASML)2nm 级工艺相当的分辨率,且该公司声称未来还能在此基础上进一步突破。此外,Substrate 在官网中详细提及,其技术不仅生产成本低于竞品,还计在 2030 年前实现更高精度的分辨率。
然而,Substrate 研发的这款设备似乎与现有设备及生产流程不兼容,若要成功落地,需重构整个供应链。不过,该公司并无销售设备的计划,而是打算自建晶圆厂,提供代工服务。
高昂设备成本与芯片行业现状设备与晶圆厂成本攀升
“设备昂贵 = 芯片昂贵”,这是当前芯片行业的显著现状。随着集成电路特征尺寸不断缩小,芯片制造商使用的光刻设备复杂度与成本持续飙升:
ASML 的 NXE:3800E 低数值孔径(Low-NA)EUV 光刻机,单台成本约 2.35 亿美元;
其 EXE:5200B 高数值孔径(High-NA)EUV 光刻机,单台成本更是高达约 3.8 亿美元。
设备成本的上涨直接导致晶圆厂建设成本激增,芯片生产成本也随之攀升。
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未来成本预测与行业影响
Substrate 预测,到 2030 年,一座先进晶圆厂的建设成本将达到约 500 亿美元。这一高昂投入意味着,未来半导体生产将集中在少数资金雄厚的企业手中。
同时,晶圆厂建设成本的增加还将推高 300 毫米晶圆的制造成本。该公司称,采用先进制程时,300 毫米晶圆的成本可能飙升至 10 万美元。这一价格将使小型企业难以承担先进芯片的研发与生产。而 Substrate 的目标是改变这一局面,计划在 2030 年前将晶圆价格降至仅 1 万美元。
Substrate 在一份声明中表示:“我们已找到一条路径,能将先进硅芯片的成本降至当前成本增长路径下的十分之一。到2030年之前,Substrate 生产的晶圆成本将接近 1 万美元,而非 10 万美元。”
粒子加速器光刻技术的行业探索
值得注意的是,Substrate 并非唯一一家探索将粒子加速器用作 EUV 或极紫外以上(beyond-EUV)光刻光源的企业。仅在美国,过去 12 个月内就有两家公司 ——Inversion Semiconductor 和 xLight,以及约翰・霍普金斯大学的研究人员,宣布正在研发基于粒子加速器的光刻系统。此外,中国和日本的科研人员也在测试将粒子加速器用于半导体生产。
Substrate 的 X 射线光刻技术解析技术核心原理
Substrate 研发的新型光刻系统,核心是通过粒子加速器产生短波长 X 射线(或光),用于芯片制造。其目标是用紧凑、低成本的设备替代 ASML 昂贵的 EUV 光刻光刻机,实现 2nm 级(甚至该公司声称的更先进)工艺的晶体管图形曝光,并计划在本十年末将芯片生产成本降低 90%。
该技术的核心部件是一款定制化粒子加速器,具体工作流程如下:
未知发射器产生电子,加速器通过射频腔将电子加速至接近光速;
高速电子穿过间歇性磁场时获得动能,达到相对论速度,经操控后可产生特殊光线;
高速电子穿过一系列交替翻转的磁铁,受磁场作用“摆动”,释放能量并产生高强度相干 X 射线(或辐射)。
这种 X 射线的亮度 “是太阳的数十亿倍”,其脉冲强度足以达到所需的分辨率与剂量要求。随后,“一系列精密抛光的光学元件” 会聚焦 X 射线脉冲,将光罩图案投影到涂有光刻胶的硅晶圆上。
不过,Substrate 在官方描述中从未提及 “光罩(reticle)” 与 “光刻胶(resist)”,仅称 “明亮的光脉冲” 会被准直并 “直接传输至硅晶圆”。这一表述暗示其可能采用无掩模直写光刻技术 —— 该技术虽适用于研发,但速度远不足以满足芯片量产需求,不过这一推测尚未得到证实。
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技术细节与当前进展
Substrate 对其技术的描述十分简略,且缺乏细节(可能出于竞争保密考虑),难以深入分析。但从 “X 射线” 这一关键信息可推断,其涉及的电磁辐射波长范围为 0.01nm-10nm,能量范围为 100 电子伏特(eV)-100 千电子伏特(keV)。波长越短,可光刻的结构精度越高,但光线的控制与应用难度也越大。
结合 Substrate 目前的成果,其技术大概率采用软 X 射线(波长 1nm-10nm,能量较低),而非硬 X 射线(波长 0.1nm-1nm,能量较高)。
此外,短波长光线(包括 EUV 与 X 射线)易被多数材料吸收,因此需要特殊的配套技术:
采用精密抛光的反射镜,通过掠射角反射光线(避免吸收);
实现超高精度对准;
搭建真空环境;
研发全新光刻胶,以承受高能光子且不损坏、不模糊。
Substrate 的现有技术成果关键性能指标突破
为证明其 XRL 技术的可行性,Substrate 展示了以下成果:
随机逻辑接触阵列:实现 12nm 临界尺寸(CD)与 13nm 尖端间距(T2T),图案保真度高;
随机过孔:中心间距 30nm,图案质量优异且临界尺寸均匀性好。
若当前能实现这些指标的量产,将彻底革新光刻行业—— 无需多图案曝光技术,就能在 2nm 级(及以下)工艺中实现双轴尺寸缩小。
与现有 EUV 技术的对比
目前,采用 0.33 数值孔径(NA)光学元件的 EUV 光刻机,在量产中可实现 13nm-16nm 的临界尺寸,足以通过单次曝光实现 26nm 最小金属间距(满足 2nm 或 3nm 级工艺需求)与 25nm 尖端间距(T2T)互联空间。
但现有 EUV 技术存在明显短板:芯片制造商为优化 Y 方向(临界尺寸 CD)分辨率以实现最窄金属线间距图案,往往会牺牲 X 方向分辨率,导致 T2T 图案曝光质量差、一致性低,进而引发桥连缺陷、随机缺陷、良率损失、设计规则复杂及尺寸缩小速度放缓等问题。
英特尔(Intel)虽在其 18A 工艺中,通过 X 方向图案整形工具缓解这一问题,但并未从根本上解决,还增加了生产流程的复杂性。
相比之下,若 Substrate 展示的实验室成果真实(非模拟数据),其设备在单次分辨率图案曝光的临界尺寸表现上,已超越现有低数值孔径 EUV 光刻机;而在高保真度尖端间距(T2T)曝光方面,更是远超现有设备。这意味着,Substrate 的 X 射线光刻设备或可替代 3nm、2nm 级工艺中昂贵的 EUV 多图案曝光技术,以及英特尔 18A 工艺中使用的图案整形技术。
更多性能数据
行业分析机构 SemiAnalysis 还从 Substrate 获取了更多性能数据,表现更为亮眼:
套刻精度:低于 1.6nm;
全晶圆临界尺寸均匀性(CDU):0.25nm;
线边缘粗糙度(LER):低于 1nm;
局部临界尺寸均匀性(LCDU):低于 1.5nm。
若这些数据准确,其均匀性可媲美甚至超越 ASML Twinscan NXE:3800E 光刻机,但套刻精度(1.6nm)略逊于最新 EUV 光刻机 0.9nm 的机台匹配套刻标准。此外,Substrate 提供的图像中,接触孔的线宽均匀性表现较差。
总体而言,若 Substrate 展示的成果为真实实验室数据,意味着该公司已攻克 X 射线光刻的三大关键难题:
搭建包含电子枪与粒子加速器的光源;
研发掠入射反射镜系统,实现 X 射线的小角度反射与聚焦;
将整套设备压缩至可放入实验室的紧凑尺寸。
Substrate 面临的未来挑战
尽管取得了实验室突破,Substrate 仍需付出大量努力,才能将 X 射线光刻技术从实验室成果转化为可量产的实用设备。核心挑战在于,需同时实现光束稳定性、光学精度、光刻胶兼容性、套刻精度与商业化吞吐量 —— 这是此前所有 X 射线光刻平台均未达成的目标。具体挑战包括:
配套技术与材料研发
光刻胶适配:现有光刻胶针对低光子能量的 EUV 优化,无法兼容 X 射线,Substrate 需研发专用光刻胶,并实现量产;
光罩研发:需开发能承受 X 射线辐射的光罩;
反射镜量产:X 射线掠入射反射镜目前尚未量产,且不确定蔡司等现有厂商能否低成本、高可靠性地实现量产。
核心性能与生产难题
损伤与缺陷控制:需确保 X 射线不会损坏底层晶体管,也不会引入随机缺陷;
套刻精度提升:需将套刻精度降至 1nm 以下,以匹配 ASML 量产级设备的对准精度,这涉及晶圆处理、工作台重复性等高精度机械问题 —— 这些问题 ASML 花了数十年才解决;
吞吐量与良率:需实现商业化的生产吞吐量与稳定良率,而 ASML 的 EUV 设备为此耗费了数年时间。
Substrate 的战略模式与潜在影响独特的商业模式
Substrate 并无计划向英特尔、台积电等第三方企业出售其 X 射线光刻设备,而是打算在美国自建晶圆厂,部署更多自研设备,并提供代工服务,与现有芯片代工厂展开竞争。
战略的利弊分析优势
若该战略成功,Substrate 可能在美国政府眼中获得地缘政治重要性,甚至推动半导体供应链重心向美国转移 —— 其设备的分辨率与性能或超越 ASML,代工服务的设计周期与产能或优于台积电。
劣势
成本与复杂度高:单座高端晶圆厂建设需数百亿美元投资,且 X 射线光刻缺乏现成的供应商与服务生态,进一步增加了难度;
设备与晶圆厂整合难:需将自研 XRL 设备与晶圆厂内数百台其他设备整合,或说服应用材料、科磊、泛林等供应商协助整合,这需要额外投入大量资金;
资源与回报压力:同时推进设备研发与晶圆厂运营,将极大消耗 Substrate 的技术与财务资源。投资者在投入数百亿美元后,会要求获得回报,这使得该公司 “2030 年前将晶圆成本降至 1 万美元” 的目标更难实现。
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