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金融界2025年7月2日消息，国家知识产权局信息显示，半导体元件工业有限责任公司申请一项名为“用于光学传感器的行驱动器的基于电平的故障检测”的专利，公开号CN120233210A，申请日期为2024年05月。
专利摘要显示，本公开涉及用于光学传感器的行驱动器的基于电平的故障检测。一种例示性故障检测系统可包括输入节点、传输电路和比较电路。该输入节点可电连接到行驱动器，该行驱动器在该输入节点上产生行驱动器电压，该行驱动器电压具有多个模拟电压电平中的一个模拟电压电平。该传输电路可被配置为当从多个行驱动器中选择该行驱动器时，将该行驱动器电压传输到由包括该故障检测系统的多个故障检测系统共享的监测节点。该比较电路可由该多个故障检测系统共享并且可被配置为通过以下方式来生成数字输出：调节来自该监测节点的电压；执行所调节的电压与参考电压之间的比较；以及基于该比较来锁存该数字输出。还公开了对应的系统、集成电路和方法。
本文源自：金融界
作者：情报员
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