北京
金融界2025年6月9日消息，国家知识产权局信息显示，华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院（北京）有限公司申请一项名为“基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法”的专利，公开号CN120107185A，申请日期为2025年02月。
专利摘要显示，本发明公开了基于视觉识别的VCSEL芯片外观缺陷检测系统及方法，属于外观缺陷检测技术领域。本发明采集芯片图像，进行有源区检测得到有源区参数，将芯片图像和有源区参数进行关联，得到芯片外观检测数据集；训练卷积神经网络模型，将待检测的芯片图像输入到训练好的卷积神经网络模型中，得到有源区异常数据集；将有源区异常数据集中的异常类型和异常位置整合进行聚类分析，结合有源区参数，计算每个聚类簇内参数的均值和标准差；将每个聚类簇作为一个节点，依据聚类簇之间的相似性确定边；计算每个节点的度，识别图中的子图结构；将不同时间点的子图结构进行对比，判断有源区异常数据集中的异常数据是否具备可逆性。
天眼查资料显示，华芯半导体科技有限公司，成立于2015年，位于泰州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本23715.4421万人民币。通过天眼查大数据分析，华芯半导体科技有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息64条，此外企业还拥有行政许可28个。
华芯半导体研究院（北京）有限公司，成立于2019年，位于北京市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，华芯半导体研究院（北京）有限公司专利信息50条，此外企业还拥有行政许可2个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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