中科院微电子研究所采购ZJ-3型精密压电D33测试仪（含三套夹具）

中科院微电子研究所采购ZJ-3型精密压电D33测试仪（含三套夹具）

中国科学院微电子研究所是一所专门从事微电子领域研究与开发的国立研究机构，是中国科学院微电子技术的总体和中国科学院EDA中心的依托单位，主要研究方向为：①集成电路先导工艺与仪器装备技术；②集成电路与系统设计技术；③高性能器件与电路集成技术；④射频、微波器件与电路集成技术；⑤三维集成与系统封装技术；⑥新型纳米器件与集成技术；⑦物联网与传感器技术。

ZJ-3型压电测试仪（静压电系数d33测量仪）,薄膜PVDF压电系数测试仪
关键词:压电,陶瓷材料,高分子,d33/d15,D15圆管夹具,

一、产品介绍：

ZJ-3型压电测试仪（静压电系数d33测量仪）是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器，它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷，小压电常数的压电单晶及压电高分子材料,PVDF薄膜压样品。ZJ-4扩展了D31块体，D31薄膜拉伸夹具，D15条状夹具，D15圆管夹具,本仪器是从事压电材料及压电元件生产、应用与研究部门的仪器。

二、参考标准:
GB3389.4-82《压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试》

GB/T3389.5-1995《压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式》

GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《压电陶瓷材料性能测试方法 柱体纵向长度伸缩振动模式》

GB/T 3389.7-1986《压电陶瓷材料性能测试方法 强场介电性能的测试》

GB/T3389.8-1986《压电陶瓷材料性能测试方法 热释电系数的测试

三、产品主要功能：

测量压电材料的d33常数

测量具有大压电常数的压电陶瓷

测量小压电常数的压电单晶及压电高分子材料

测量任意取向压电单晶以及某些压电器件的等效压电d’33常数

薄膜PVDF压电系数D33测试

D31块体，D31薄膜拉伸夹具，D15条状夹具，D15圆管夹具等八套夹具

四、主要技术指标

d33测量范围：

×1挡：20至2000pC/N 扩展10000PC/N

×0.1挡：2至400pC/N。

可以配套PZT-JH10/4/8/12型压电极化装置使用

可以配套ZJ-D33-YP15压电压片机使用
误差：×1挡：±2%±1个数字，当d33在100到4000pC/N；

计量标定标准样尺寸：18mm*0.8mm，老化时间：2-3年（评判压电测试仪准确性能的重要依据之一）

提供压电薄膜标准片：20*20MM

电压保护：放电保护功能

D31块体，D31薄膜拉伸夹具，D15条状夹具，D15圆管夹具D31块体夹具，薄膜拉伸夹具（新增功能）,共面电极功能（新增）
±5%±1个数字，当d33在10到200pC/N；
×0.1挡：±2%±1个数字，(当d33在10到200pC/N)
±5%±1个数字，当d33在10到20pC/N。
分辨率： ×1挡：1 pC/N；×0.1挡：0.1 pC/N。
尺寸：施力装置：Φ110×140mm；仪器本体：240×200×80mm。
重量：施力装置：约4公斤；
仪器本体：2公斤。
电源：220伏，50赫，20瓦。

经典案列：

1、环形压电陶瓷片/叠堆测试 D33测试仪 实际应用一：

2、环形压电陶瓷弯曲片D33测试 实际应用二：