北京
金融界2025年4月8日消息，国家知识产权局信息显示，开封市测控技术有限公司申请一项名为“一种双层涂布片材的厚度测量装置及使用方法”的专利，公开号CN 119771699 A，申请日期为2025年1月。
专利摘要显示，本发明涉及一种双层涂布片材的厚度测量装置及使用方法，包括双层涂布模头和烘干装置，双层涂布模头包括上模、中模、下模、第一输料通道和第二输料通道，涂布组件一侧设有 X 射线测厚仪，烘干装置一侧设有双能射线测厚仪，双能射线测厚仪包括机架、第一上滑轨、第一下滑轨、第一滑块、X 射线发生器、第二滑块、X 射线探测器、β射线探测器、β射线发生器、第一转向辊和第二转向辊；双层涂布模头一侧设有背辊，背辊设有旋转编码器，第一输料通道设有第一输送管，第一输送管设有第一增压泵，第二输料通道设有第二输送管，第二输送管设有第二增压泵。能够反馈双层涂布极片面密度和碳元素和硅元素比例。本发明使用方便，具有广泛的市场前景。
天眼查资料显示，开封市测控技术有限公司，成立于1997年，位于开封市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币，实缴资本684万人民币。通过天眼查大数据分析，开封市测控技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目324次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息46条，此外企业还拥有行政许可9个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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