北京
金融界2025年4月5日消息，国家知识产权局信息显示，佛山易事达电容材料有限公司申请一项名为“一种基于理论光谱与量测光谱的金属薄膜测量方法”的专利，公开号 CN 119757234 A，申请日期为 2024 年 12 月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于理论光谱与量测光谱的金属薄膜测量方法，涉及薄膜光学测量技术领域，包括在预设波长范围内，采用椭偏仪对待测金属薄膜样品进行光谱扫描，获取量测光谱数据；构建基于三层膜系结构的理论光谱模型，设定结构参数初始值；将结构参数初始值代入所述理论光谱模型，生成理论光谱数据；采用多策略并行的全局优化算法对结构参数进行迭代调整，当满足第一收敛准则时终止迭代过程，输出最优结构参数；基于最优结构参数，计算并输出金属薄膜的实际膜厚、折射率和消光系数。本发明构建了结合德鲁德‑洛伦兹色散模型、有效介质近似理论和传递矩阵法的理论光谱模型，实现了金属薄膜光学参数的高精度表征，有效提高了测量精度。
天眼查资料显示，佛山易事达电容材料有限公司，成立于1998年，位于佛山市，是一家以从事橡胶和塑料制品业为主的企业。企业注册资本5503.5997万人民币，实缴资本5503.5997万人民币。通过天眼查大数据分析，佛山易事达电容材料有限公司参与招投标项目20次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息28条，此外企业还拥有行政许可12个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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