北京
金融界2025年3月18日消息，国家知识产权局信息显示，西安爱德华测量设备股份有限公司申请一项名为“用于三坐标测量机光学系统的光学元件及制备方法”的专利，公开号CN 119620264 A，申请日期为2025年2月。
专利摘要显示，本发明涉及光学元件制备技术领域，具体公开了一种用于三坐标测量机光学系统的光学元件及制备方法，其中，用于三坐标测量机光学系统的光学元件包括：以石英玻璃作为主体所形成的基板，该基板的表面由边侧向基板的中心形成非光滑曲面；非光滑曲面作为表面被加工成具有连续的以凸峰和凹谷为基础所形成的波浪形态；在非光滑曲面的上部设置有由Al2O3制成的薄膜层，薄膜层将基板上部形成光滑曲面。本申请在以石英玻璃作为主体所形成的基板上通过蚀刻的手段得到连续的以凸峰和凹谷为基础所形成的波浪形态，通过控制凸峰和凹谷之间的宽度和深度来实现对光波的筛选，与传统的技术相比，在基板上以蚀刻的手段得到连续的凸峰和凹谷是容易控制的。
天眼查资料显示，西安爱德华测量设备股份有限公司，成立于1997年，位于西安市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本5500万人民币，实缴资本4000万人民币。通过天眼查大数据分析，西安爱德华测量设备股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目82次，财产线索方面有商标信息72条，专利信息69条，此外企业还拥有行政许可13个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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