日本AET测试仪，量化介电常数，赋能科技新篇！

日本AET测试仪简介

• 原理与技术：日本AET测试仪主要利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM来测量材料的高频介电常数，从而保证了测量结果的精确性.

• 技术参数：可测试频率范围为800M～9.4GHz ，其介电常数Epsilon范围在1-15之间，准确度可达±1%；介电损耗tangent delta范围为0.1-0.001，准确度为±5%。该测试仪共有两种同轴共振腔，Type A腔可测0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz五个频点，Type B腔可测1/3/5/7/9GHz五个频点.

• 主要特点：同轴共振腔适用于不同形状的样品，包括对薄膜样品的非破坏性测量。它使用简易的逐步操作，内置的反馈振荡器电路可实现精确的量测.

量化介电常数的意义

• 在电子设备中的作用：介电常数是描述材料在电场中影响电场强度和储存电荷能力的重要物理量。对于电容器而言，介电常数决定了其储能能力，高介电常数的材料可以增加电容器的电容量，使相同体积的电容器能够储存更多的电荷，这对于电子设备中电源管理、信号处理等电路的设计至关重要 .

• 对材料性能的评估：不同材料具有不同的介电常数，通过测量介电常数可以评估材料的绝缘性能、极化能力等特性。例如，在选择电线电缆的绝缘材料时，通常会选用介电常数较高的材料，以减少电场泄漏，提高绝缘性能.

• 在电磁学研究中的价值：介电常数影响电磁波在材料中的传播速度和波长，对于研究电磁现象、设计微波和射频电路等具有重要意义。在无线电频率（RF）和微波工程中，了解材料的介电常数有助于优化天线设计、提高信号传输效率等.

应用领域

• 电子材料领域：在半导体材料、电子材料（包括CCL和PCB）的研发和生产过程中，精确测量介电常数有助于评估材料的性能，确保其符合电子设备对信号传输、绝缘等方面的要求，从而提高电子设备的整体性能和可靠性.

• 通信技术领域：对于滤波器和介电天线用低损耗电介质的研究和开发，AET测试仪能够准确测量材料的介电常数和介电损耗，为设计高性能的通信滤波器和天线提供关键数据支持，有助于提高通信系统的信号质量和传输效率.

• 材料科学研究领域：在化学制品、薄膜与新材料、陶瓷材料、纳米材料、光电材料等各类材料的研究中，量化介电常数可以帮助科研人员深入了解材料的电磁特性，为开发新型功能性材料提供理论依据和实验数据，推动材料科学的发展.