金融界2024年10月29日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市欢太科技有限公司申请一项名为“磁盘坏道检测方法、装置、设备及存储介质”的专利,公开号 CN 118824332 A,申请日期为2023年4月。
专利摘要显示,本申请提供了一种磁盘坏道检测方法、装置、设备及存储介质,属于计算机技术领域。该方法包括:响应于读写指令,获取所述读写指令携带的磁道标识,所述读写指令包括读指令和写指令,所述读指令用于指示读取所述磁道标识所指示的磁道中存储的数据,所述写指令用于指示向所述磁道写入数据,所述磁道标识用于指示磁盘中的磁道;基于所述磁道标识,执行所述读写指令;响应于所述读写指令执行失败,将所述读写指令携带的磁道标识写入坏道记录库,所述坏道记录库用于记录已发现的磁盘坏道。上述方案能够在对磁道进行读写数据的过程中,同步检测磁道是否为磁盘坏道。
本文源自:金融界
作者:情报员
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