衰变荧光寿命测量系统,荧光寿命测试仪可测络合物荧光,旋转时间

衰变荧光寿命测量系统是自动荧光寿命测试仪器,能够测量络合物的荧光和旋转相关时间,荧光混合物在1秒内准确度为皮秒。可用于快速测量动力学过程；停止状态下混合物的衰变时间，流动装置和色谱；和生命周期必须在以下条件下尽量减少曝光的样品,避免光漂白。
衰变荧光寿命测量系统特点
灵活的仪器配置，具有多种光源（激光二极管、LED和钛宝石激光器）
紧凑的占地面积和短光程长度，可实现最大的灵敏度和高效的光耦合到样品中
仅次于皮秒的寿命测量能力
仪器组件的全自动化，包括：反应杯支架、偏振器、快门、过滤轮、单色器和搅拌器

衰变荧光寿命测量系统,自动荧光寿命测试仪器-辅光仪器 (f-lab.cn)

温度通道、滴定仪、停流装置和压力泵的PC控制集成
可升级至全稳态仪表
用于快速精确偏振测量的T格式平行光束光学设计
采用Vinci多维荧光光谱技术
荧光寿命由两个可测量参数计算：相位角和调制
是一种速度更快、不易产生伪影
允许一步测量各向异性衰减（旋转相关时间）
更好地解决短期寿命贡献
是基于寿命的传感和实时测量的首选方法，因为毫秒级的采样率很高
衰变荧光寿命测量系统ChronosDFD使用独特的数字频域技术光源（激光二极管和LED）为使用持续时间约为2纳秒的方脉冲进行调制重复率由用户选择，范围为
0.05 Hz至80 MHz。频率信号包含基波重复频率及其谐波频率高达30；也就是说，当基频为例如10 MHz时，20、30、40和300 MHz以下的谐波生成。探测器光子被分离到相位箱中,取决于它们各自的相移和解调,直到建立了相位直方图；从柱状图的衰减时间已确定。

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荧光寿命光谱仪|超快时域荧光光谱仪_衰变荧光寿命测量系统-辅光仪器 (f-lab.cn)

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衰变荧光寿命测量系统应用
固定波长强度测量
固定波长下的偏振（各向异性）测量
慢速和快速动力学
双波长发射比测量
单指数和多指数衰减的频率响应
各向异性衰减
相位和调制分辨动力学
相位和调制分辨光谱
时间分辨光谱
FRET荧光共振能量转移
衰变荧光寿命测量系统规格参数

光源

• 激光二极管 (nm): 370, 405, 436, 473, 635, 690, 780, 830
• LEDs (nm): 280, 300, 335, 345, 460, 500, 520
• 脉冲激光器: 超连续激光器, Ti:S激光, 脉冲激光二极管

聚焦 & 采集

平行光束,为精密偏振测量使用

偏振片

UV 级 Glan-Thompson with L/A=2.0

200nm~1700nm (detector dependent)

最大计数范围

Up to 13 million counts/s (using hybrid detectors)

10-12 sec to 1 sec,
(range selectable through software)