北京
国家知识产权局信息显示，上海为旌科技有限公司、南京为旌科技有限公司申请一项名为“可测试芯片内置电路和测试方法、设备及介质”的专利，公开号CN122985536A，申请日期为2026年9月。
专利摘要显示，本申请实施例提供了一种可测试芯片内置电路和测试方法、设备及介质，属于数字电路技术领域，该内置电路包括：复位总控模式块，包括扫描使能信号端、可配置寄存器单元及第一或门，前两者共同接入第一或门以输出总控复位控制信号；链上控制模式块，包括第一链上寄存器单元、数据选择器、测试信号端及功能复位端，功能复位端与链上输出端接入数据选择器，测试信号端接其选择端，以输出链上复位控制信号；第二或门，输入侧接入上述两控制信号；待测寄存器单元，其待测复位端接第二或门输出侧。本申请通过两模式块协同工作，经第二或门汇聚至待测复位端，以控制复位电平，由总控模式提供兜底机制，兼顾高测试覆盖率与抗故障冗余，保障测试安全。
天眼查资料显示，上海为旌科技有限公司，成立于2020年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本851.7493万人民币。通过天眼查大数据分析，上海为旌科技有限公司共对外投资了9家企业，财产线索方面有商标信息54条，专利信息57条，此外企业还拥有行政许可3个。
南京为旌科技有限公司，成立于2023年，位于南京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本10500万人民币。通过天眼查大数据分析，南京为旌科技有限公司专利信息4条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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