北京
国家知识产权局信息显示，上海浦壹电子科技有限公司申请一项名为“一种基于X射线图像的芯片内部焊点缺陷智能识别方法”的专利，公开号CN122989648A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于X射线图像的芯片内部焊点缺陷智能识别方法，涉及X射线图像处理及智能缺陷识别技术领域，用于解决芯片内部焊点缺陷难以准确定位、分类和可信判定的问题；包括获取待检芯片焊点区域的X射线图像，对图像进行灰度基准校正、归一化、噪声抑制和灰度增强；依据焊点排布信息确定并修正焊点区域位置，裁取焊点样本图像；通过焊点缺陷识别网络生成缺陷概率图和焊点类别概率，并结合缺陷候选区域、边界细化、轮廓合并及置信值计算，输出焊点类别、缺陷位置、缺陷参数和识别可信程度，实现芯片内部焊点缺陷的智能识别。
天眼查资料显示，上海浦壹电子科技有限公司，成立于2009年，位于上海市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海浦壹电子科技有限公司共对外投资了8家企业，参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息63条，此外企业还拥有行政许可7个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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