北京
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国家知识产权局信息显示，深圳市二一教育科技有限责任公司申请一项名为“基于大模型与心理测量融合的中小学试卷质量分析方法及系统”的专利，公开号CN122966075A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本发明公开了基于大模型与心理测量融合的中小学试卷质量分析方法及系统，属于教育测评与智能试卷质量分析领域，为解决现有试卷质检依赖人工、语义适配不足、证据链弱且施测前测量评价不足的问题，本发明通过多模态结构化解析、知识检索、多代理评价、证据测量双校准仲裁及融合回流处理，实现了提高施测前试卷质量分析一致性、可解释性和可复核性的技术效果。
天眼查资料显示，深圳市二一教育科技有限责任公司，成立于2006年，位于深圳市，是一家以从事教育为主的企业。企业注册资本633.3568万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市二一教育科技有限责任公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目628次，财产线索方面有商标信息33条，专利信息19条，此外企业还拥有行政许可15个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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