北京
国家知识产权局信息显示，德力光电科技（天津）有限公司申请一项名为“一种光谱仪杂散光在线抑制校正方法及系统”的专利，公开号CN122943990A，申请日期为2026年9月。
专利摘要显示，本发明公开了一种光谱仪杂散光在线抑制校正方法及系统，涉及光谱检测技术领域，方法包括：获取光谱仪对全波段单色光的全波段像素响应曲线并提取残差数据，将其提纯归一化得到基础杂光图样，作为离线校正基底库；接着在线采集当前帧的原始光谱，定位原始光谱中的强峰像素位置与光强幅值，调取离线校正基底库中的基础杂光图样经过空间平移、幅度调制合成专有杂光模板，最终将原始光谱减去该模板，输出校正后的纯净光谱，实现杂散光在线抑制校正。本发明解决了光谱仪在复杂测量环境中，静态校正难以应对动态变化的杂散光干扰，导致测量精度受限的技术问题，达到了利用动态合成专有杂光模板并实时扣除，提升光谱测量准确性与环境适应性的技术效果。
天眼查资料显示，德力光电科技（天津）有限公司，成立于2021年，位于天津市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本6000万人民币。通过天眼查大数据分析，德力光电科技（天津）有限公司参与招投标项目11次，专利信息9条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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