北京
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国家知识产权局信息显示，德州仪器公司申请一项名为“测试电路及包含其的电子装置以及测试方法”的专利，公开号CN122944835A，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，本申请涉及测试电路及包含其的电子装置以及测试方法。一种测试电路包括：第一电路，其包括：多个测试输入端子，其可配置以接收多个比较器测试信号，其中每个比较器测试信号与相应测试比较器的阈值电压相关联；以及测试输出端子，其中所述第一电路可配置以响应于所述多个比较器测试信号而在所述测试输出端子处生成总组合测试信号。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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