北京
国家知识产权局信息显示，广上科技（广州）股份有限公司申请一项名为“一种电子元器件的检测方法及装置”的专利，公开号CN122921933A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本申请提供的一种电子元器件的检测方法及装置，通过根据电子元器件尺寸自动适配相机像素、拍摄视场和放大倍数，确保微型电子元器件表面微小文字和特征标记在图像中具有足够的像素表达能力；根据玻璃材质与非玻璃材质的不同反光特性，自适应选择同轴光、低角度侧向光、环形光等多光源组合，有效降低玻璃封装电子元器件的镜面反光和局部过曝干扰；对多角度照明采集的原始图像进行质量评价和加权融合，保留不同光照条件下的有效信息，从而显著提高电子元器件表面文字信息、方向标记及特征图形的成像清晰度和识别稳定性，解决微型电子元器件在自动光学检测中因尺寸过小和材质反光导致的识别困难问题。
天眼查资料显示，广上科技（广州）股份有限公司，成立于1998年，位于广州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本18409.289万人民币。通过天眼查大数据分析，广上科技（广州）股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目9次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息99条，此外企业还拥有行政许可53个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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