北京
国家知识产权局信息显示，武汉恩达通科技股份有限公司申请一项名为“一种高速光模块测试系统及测试方法”的专利，公开号CN122932790A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本发明公开了一种高速光模块测试系统及测试方法，该系统包括温度控制箱体和设置于内的测试系统组合测试板；温度控制箱体包括箱体和设置于内的控温组件；测试系统组合测试板包括模块接口板、信号控制板和供电及监测板；模块接口板上设有可更换测试接口；模块接口板通过第一连接器与信号控制板连接，以进行高频信号的通信；信号控制板通过卡扣连接器与供电及监测板连接，以进行电信号的通信；模块接口板和信号控制板上均设有损耗测试射频接口；供电及监测板上设有控制器，用于对模块接口板和信号控制板进行供电控制、状态监测及通信管理，且至少部分通信接口和/或供电接口具有互为备份的冗余配置。本发明能够提升测试兼容性。
天眼查资料显示，武汉恩达通科技股份有限公司，成立于2017年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1215.6156万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉恩达通科技股份有限公司参与招投标项目8次，财产线索方面有商标信息9条，专利信息147条，此外企业还拥有行政许可28个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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