北京
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国家知识产权局信息显示，上海市计量测试技术研究院有限公司申请一项名为“一种多参数几何量具综合检定仪”的专利，公开号CN122881539A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本发明公开了一种多参数几何量具综合检定仪，涉及几何量具测定技术领域，本发明包括导轨，所述导轨上滑动安装有小车，所述小车上固定安装有检测头，所述导轨上安装有与小车相配合的定位组件，所述导轨上固定安装有固定框，且导轨上滑动安装有移动框，所述固定框以及移动框上均安装有夹持组件；所述导轨内安装有移动组件，且移动组件与移动框之间安装有位移组件，所述移动组件包括滑动安装在导轨上的安装块。优点在于：本发明通过弹簧一与位移组件将拉力转化为移动块位移，经螺旋槽驱动转杆旋转，同步触发挤压板锁定安装块和插接齿条脱离驱动块，量具在达到规定拉力后可自动停止拉伸稳定保持，保证了不同长度量具的安全可靠拉伸。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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