北京
国家知识产权局信息显示，见微半导体（深圳）有限公司申请一项名为“一种半导体微尘与微缺陷识别及分级方法、装置及设备”的专利，公开号CN122872089A，申请日期为2026年9月。
专利摘要显示，本申请提供了一种半导体微尘与微缺陷识别及分级方法、装置及设备，其包括获取半导体晶圆的第一形态数据；根据所述第一形态数据，确定所述半导体晶圆的异常区域，对所述异常区域进行除尘；获取除尘后的所述异常区域的第二形态数据；根据所述第二形态数据判定所述异常区域的异常类型；根据所述异常类型及所述第二形态特征信息，确定所述异常区域对所述半导体晶圆的质量影响程度，并根据所述质量影响程度生成所述半导体晶圆的质量等级及对应的处置策略，提高加工效率和优化成本。
天眼查资料显示，见微半导体（深圳）有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本357.941834万人民币。通过天眼查大数据分析，见微半导体（深圳）有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息4条，专利信息13条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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