北京
国家知识产权局信息显示，沈阳艾尔泰克精密仪器有限公司申请一项名为“一种对折式杂散光抑制反射镜组件及其激光粒子计数方法”的专利，公开号CN122860698A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本发明涉及大气颗粒物检测技术领域，特别涉及一种对折式杂散光抑制反射镜组件及其激光粒子计数方法。所述折反射镜组包括沿光轴依次设置的第一单块折反射镜和第二单块折反射镜，二者均为单块光学玻璃制成的碗形透镜，利用单块折反射镜的一体化光路实现天然杂散光筛选和全波段像差校正，在收集散射光的部分无需额外杂散光抑制元件，大幅提升系统信噪比和聚焦精度，降低粒子检测下限；所述粒子计数方法通过对光电探测器输出的电脉冲信号进行峰值幅度提取和径向偏移修正，进一步提高粒子粒径测量和计数的准确性。本发明结构简单、装调方便，可广泛应用于大气环境监测、洁净室检测等领域。
天眼查资料显示，沈阳艾尔泰克精密仪器有限公司，成立于2011年，位于沈阳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本50万人民币。通过天眼查大数据分析，沈阳艾尔泰克精密仪器有限公司参与招投标项目2次，专利信息8条，此外企业还拥有行政许可3个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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