北京
国家知识产权局信息显示，银金达（上海）新材料有限公司申请一项名为“一种基于视觉检测的膜面划痕与晶点分类识别方法及系统”的专利，公开号CN122866157A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本发明涉及视觉检测技术领域，公开了一种基于视觉检测的膜面划痕与晶点分类识别方法及系统，该系统包括：膜面输送模块；多角度光场检测模块；反射抑制模块，用于根据不同光照响应状态下获取的膜面检测图像进行反射特征变化分析，识别并抑制由膜面镜面反射产生的异常响应区域，得到缺陷保留图像；缺陷解析模块，用于对缺陷保留图像中的异常区域进行边缘强化和区域分离处理，提取膜面缺陷区域；特征关联模块，用于获取膜面缺陷区域对应的形态特征、纹理特征以及空间变化特征；分类识别模块。本发明有效排除反光带来的检测误判，提升缺陷识别的整体准确率。
天眼查资料显示，银金达（上海）新材料有限公司，成立于2019年，位于上海市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本6600万人民币。通过天眼查大数据分析，银金达（上海）新材料有限公司参与招投标项目3次，专利信息51条，此外企业还拥有行政许可40个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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