北京
国家知识产权局信息显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司申请一项名为“半导体图像的分级检测方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN122865966A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本公开涉及一种半导体图像的分级检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：采用第一检测方式，对半导体的待检测图像进行缺陷检测，得到第一检测结果；确定第一检测结果是否符合预设的下级检测条件；若第一检测结果符合下级检测条件，则将待检测图像确定为难例图像，以及采用第二检测方式，对难例图像进行缺陷检测，得到第二检测结果；基于第一检测结果和第二检测结果，确定待检测图像的目标检测结果；其中，第二检测方式的检测精度大于第一检测方式的检测精度，或者，第二检测方式的检测可靠程度大于第一检测方式的检测可靠程度。由此，可以提高难例图像检测的准确度和效率。
天眼查资料显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司参与招投标项目3次，专利信息88条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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