北京
国家知识产权局信息显示，平方和（北京）科技股份有限公司申请一项名为“基于极坐标阵列扫描的隐形眼镜镂空花纹偏移检测方法及系统”的专利，公开号CN122866004A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本发明涉及图像处理技术领域，公开了基于极坐标阵列扫描的隐形眼镜镂空花纹偏移检测方法及系统，包括读取隐形眼镜铸模图像，对隐形眼镜铸模图像进行转换去噪处理，得到去噪图像，对去噪图像进行铸模边缘定位，得到铸模轮廓；对隐形眼镜铸模图像进行预处理，得到预处理图像，基于铸模轮廓和预处理图像提取得到铸模区域图像；对铸模区域图像进行基于极坐标变换的线阵扫描，得到油墨轮廓的散点集合，并提取散点集合的最大内切圆，得到最大内切圆圆心及半径；对铸模轮廓进行椭圆拟合，得到铸模圆心，计算铸模圆心与最大内切圆圆心的偏移量；本发明对隐形眼镜铸模图像进行自动识别，可高效的完成偏移检测，降本增效、提高生产效率、提升生产良品率。
天眼查资料显示，平方和（北京）科技股份有限公司，成立于2018年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本652.3959万人民币。通过天眼查大数据分析，平方和（北京）科技股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目10次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息174条，此外企业还拥有行政许可3个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
