北京
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国家知识产权局信息显示，昂图创新有限公司申请一项名为“表面检查系统”的专利，公开号CN122872812A，申请日期为2025年2月。
专利摘要显示，一种表面检查系统可设置有激光光点大小或激光线宽度，该激光光点大小或该激光线宽度可基于从被测表面向上或向下突出的被测对象的可测量方面来选择。可选择较大的激光光点大小或激光线宽度以一次覆盖被测表面的较大区域，这可增加在被测表面上的扫描速度，并且提升系统测量吞吐量。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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