北京
国家知识产权局信息显示，安测半导体技术（江苏）有限公司申请一项名为“一种用于混合信号芯片模拟前端增益的测试方法及电路”的专利，公开号CN122860068A，申请日期为2026年9月。
专利摘要显示，本申请公开了一种用于混合信号芯片模拟前端增益的测试方法及电路，本申请属于半导体测试技术领域。该方法包括：在测试设备与待测芯片的差分输入端之间连接衰减激励网络，自动测试设备输出第一量级差分激励信号；向待测芯片加载AFE2测试向量，并控制待测芯片将模拟前端的增益响应状态编码为8bit并行数据组输出；通过捕获存储器对8bit数据组进行离散读取，获取连续的12组数据；从中按照固定步长进行抽样，分别作为第一代表值R1、第二代表值R2、第三代表值R3和第四代表值R4；计算多维增益参数；与预设判定窗口进行比对，若落入预设判定窗口内则确定为合格。本技术方案，可以有效滤除瞬态干扰，使增益计算基于稳态代表值，显著提升了测试结果的准确性。
天眼查资料显示，安测半导体技术（江苏）有限公司，成立于2018年，位于扬州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本9000万人民币。通过天眼查大数据分析，安测半导体技术（江苏）有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目22次，财产线索方面有商标信息5条，专利信息55条，此外企业还拥有行政许可16个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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