北京
国家知识产权局信息显示，嘉兴德普电子科技有限公司申请一项名为“一种导电薄膜按压压力测试方法”的专利，公开号CN122836449A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本申请涉及键盘导电膜质量检测的领域，尤其是涉及一种导电薄膜按压压力测试方法，具体包括以下步骤，获取待测导通点对应的历史导通控制量；根据历史导通控制量确定本次测试的起始控制量，并控制压杆按照起始控制量对待测导通点施加按压力；检测待测导通点的导通状态，当待测导通点在起始控制量下处于导通状态时，自起始控制量开始降低驱动控制量，使压杆施加的按压力减小，直至待测导通点由导通状态变为不导通状态；根据待测导通点由导通状态变为不导通状态时对应的边界控制量，确定待测导通点的导通压力；将导通压力与预设合格压力范围进行比较，以判断待测导通点的按压压力是否合格，有助于测试效率提升。
天眼查资料显示，嘉兴德普电子科技有限公司，成立于2021年，位于嘉兴市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，嘉兴德普电子科技有限公司参与招投标项目1次，专利信息14条，此外企业还拥有行政许可1个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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