北京
国家知识产权局信息显示，芯盛智能科技（湖南）有限公司申请一项名为“将DRAM颗粒测试结果映射至ATE测试结论的方法及系统”的专利，公开号CN122815146A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，本发明公开了将DRAM颗粒测试结果映射至ATE测试结论的方法及系统，涉及DRAM颗粒测试技术领域，所述方法包括：建立金标准样本集合，获取其ATE多维标准测试结论，使用低成本DRAM颗粒测试设备对其执行测试，采集多模态测试数据并进行归一化，构建测试特征向量；训练ATE结论映射模型；训练与映射模型解耦的置信度评估模型；对待测DRAM颗粒，使用低成本测试设备采集多模态测试数据；由复判路由模型根据预测结论和预测置信度决定处理路径；对送ATE复判的样本获取ATE实际结果，将结果作为新的标注样本回灌，同步更新映射模型、置信度阈值与复判路由规则。本申请显著降低了ATE占用率与单颗测试成本。
天眼查资料显示，芯盛智能科技（湖南）有限公司，成立于2018年，位于长沙市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本76669.461万人民币。通过天眼查大数据分析，芯盛智能科技（湖南）有限公司共对外投资了6家企业，参与招投标项目15次，财产线索方面有商标信息50条，专利信息206条，此外企业还拥有行政许可8个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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