北京
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国家知识产权局信息显示，芬兰探测技术股份有限公司申请一项名为“用于辐射探测的PCB”的专利，公开号CN122826502A，申请日期为2025年2月。
专利摘要显示，各种示例性实施例涉及一种用于辐射探测的PCB。示例性实施例可包括：孔，其中闪烁体材料沿所述孔的深度方向布置于所述孔，使得所述闪烁体材料具有厚度；并且其中所述闪烁体材料的厚度被配置成使得所述闪烁体材料将第一能量范围内的辐射转换为第二能量范围内的辐射，所述第二能量范围包括低于所述第一能量范围的能量。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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