确安科技申请晶圆测试图校验相关专利，校验晶圆测试图参数，提升旋转补偿效准度

来源：新浪证券-红岸工作室

9月24日消息，国家知识产权局信息显示，北京确安科技股份有限公司申请一项名为“一种晶圆测试图参数合法性校验与自适应旋转补偿方法”的专利。申请公布号为CN122803682A，申请号为CN202610925251.3，申请公布日期为2026年9月22日，申请日期为2026年6月25日，发明人李建国，专利代理机构北京轻创知识产权代理有限公司，专利代理师陈瀚洋，分类号H10P74/00、G06T7/00、G06T7/73、G06T7/33、G06T7/68。

专利摘要显示，本发明公开一种晶圆测试图参数合法性校验与自适应旋转补偿方法，通过获取晶圆测试数据集并接收配置的旋转角度、旋转中心坐标和标记点坐标，对旋转角度进行范围校验并对标记点坐标与数据集几何中心进行偏差校验，在偏差超过阈值时确定最终旋转中心，采用单次遍历方式计算旋转后坐标并同步更新极值以存储映射关系，根据极值确定最小外接矩形并分配内存，采用多核分块并行处理根据旋转角度类型选择无锁直接写入或线程局部缓冲合并方式将测试结果写入最小外接矩形，解决了旋转前缺乏标记点位置与旋转参数合法性同步校验、旋转补偿与参数校验环节相互割裂、多次遍历数据导致性能瓶颈的技术问题，提高了晶圆测试图旋转补偿的准确性与自动化处理效率。

天眼查数据显示，北京确安科技股份有限公司成立日期2004年7月23日，法定代表人杨琨，所属行业为科技推广和应用服务业，企业规模为大型，注册资本12759.379万人民币，实缴资本12759.379万人民币，注册地址为北京市海淀区丰贤中路7号孵化楼二层202区。北京确安科技股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目99次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息64条，拥有行政许可7个。

北京确安科技股份有限公司近期专利情况如下：

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人1一种文本晶圆图的边缘管芯处理方法及相关设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610925253.22026-06-25CN122676009A2026-09-01李建国2一种半导体测试数据的跨目录序列号重复检测与归档方法发明专利公布CN202610925250.92026-06-25CN122758450A2026-09-15李建国3一种晶圆测试图参数合法性校验与自适应旋转补偿方法发明专利公布CN202610925251.32026-06-25CN122803682A2026-09-22李建国4芯片测试任务动态调度方法、系统、电子设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511988159.32025-12-26CN122086538A2026-05-26牛孝忠、徐喆锴5一种防止探针卡高温测试针痕偏移的方法及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511963261.82025-12-24CN121878423A2026-04-17何鹏6一种基于功能测试的基准源修调方法及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511963504.82025-12-24CN121957258A2026-05-01金兰、石志刚、武平、刘海涛、阚紫为7一种智能氮气柜系统及智能氮气柜存取控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511942953.42025-12-22CN121817617A2026-04-10李国伟8一种将Inkless Map转换为探针台Map的方法及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511942966.12025-12-22CN122043186A2026-05-15俞辉9空Tray盘残余芯片的检测方法、系统、设备和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511806319.82025-12-03CN121857081A2026-04-14王璐、赵文涛10晶圆级测试探针台环境温度校准方法、系统、设备和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511806315.X2025-12-03CN121898639A2026-04-21金兰11适用于多种ATE的STDF文件离线生成方法及系统发明专利公布CN202511497551.82025-10-20CN121636267A2026-03-10朱晨捷、周乃新、石志刚、武平、金兰、尹威武12一种在脱机状态下优化DEVICE MAP的方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511370245.82025-09-24CN121454278A2026-02-03华志松、夏云、陈杰、马皓青13用于封装器件三温测试的金属导热嵌套结构及其优化方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510476313.22025-04-16CN120522420A2025-08-22杨建军、刘威、陈保满14一种探针卡针尖接触判断系统及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202411525207.02024-10-30CN119535154A2025-02-28夏云、华志松、陈杰、马皓青、吉莲红15一种探针卡PCB设计方法、系统及探针卡PCB板发明专利实质审查的生效、公布CN202411506565.72024-10-28CN119535152A2025-02-28赵文涛16一种集成电路芯片trimming方法及系统发明专利实质审查的生效、公布CN202411506566.12024-10-28CN119670683A2025-03-21赵文涛17一种清针砂纸、清针装置及测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202411428374.32024-10-14CN119260623A2025-01-07何鹏18一种可调节氮气环高度的高电压探针卡发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202411408292.22024-10-10CN119270026A2025-01-07陈保满、肖佳龙、何鹏、吴光明19一种光感芯片测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202411408411.42024-10-10CN119535149A2025-02-28杨建军、陈保满、刘威20一种晶圆测试轨迹生成方法、系统、电子设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411339455.62024-09-25CN119375523A2025-01-28阚紫为、杨颖超21一种晶圆测试结果检验方法、系统、电子设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411270528.02024-09-11CN119441841A2025-02-14周乃新、俞辉22一种用于晶圆高电压测试的探卡发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202411242454.X2024-09-05CN119087183A2024-12-06李国伟23一种探针台盖板调平方法及系统发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202411242399.42024-09-05CN119087182A2024-12-06吴光明、刘健健24晶圆区域性失效检测方法、系统、电子设备和存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411242457.32024-09-05CN119087184B2025-08-26俞辉25一种集成电路测试中site的管控方法及系统发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202011337891.12020-11-25CN112462233B2023-11-17周乃新26J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202011298163.42020-11-18CN112509629B2024-06-18张琳27资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202010218329.02020-03-25CN113447791B2023-04-07任海瑞、刘海涛28清针片及其制作方法、清针装具、探针清洁方法及装置发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202010096953.82020-02-17CN113263458A2021-08-17杨颖超、阚紫为29一种基于MES的晶圆测试方法及系统发明专利发明专利申请公布后的驳回、发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN201910031026.52019-01-14CN111435146A2020-07-21金兰30一种获取探针台程序名称的方法及装置发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN201910027675.82019-01-11CN111435308A2020-07-21周乃新、张欢、李建国31一种针对智能卡芯片的测试系统发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN201910028436.42019-01-11CN111435145A2020-07-21石志刚、来金鑫32一种晶圆打点装置发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN201711376869.62017-12-19CN109935535A2019-06-25阚紫为、 杨颖超、 杨振宇33一种内嵌flash芯片的基准源修调方法发明专利授权、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201711287926.32017-12-07CN109901650B2020-11-06石志刚34一种对闪存芯片编码的方法和装置发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN201711176413.52017-11-22CN109818622A2019-05-28丁峰、 武平、 任海瑞35一种将晶圆Map文件转换为拾片文件的方法及系统发明专利授权、实质审查的生效、公布CN201711173278.92017-11-22CN109814922B2022-11-08周乃新、李建国36一种验证测量系统是否处于稳定状态的方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、著录事项变更、发明专利申请公布CN201611052643.62016-11-24CN106546937A2017-03-29谭雪、王艳平、刘伟、石志刚37一种查看测试系统处于稳定状态下实际加工能力的方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201611052170.X2016-11-24CN107340487A2017-11-10谭雪、石志刚、刘伟、王艳平38一种集成电路测试系统的大电流监控方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201610479350.X2016-06-27CN107543944A2018-01-05刘伟、金兰39一种改进的芯片测试夹具实用新型授权CN201620202225.X2016-03-16CN205388612U2016-07-20刘伟、金兰、阚紫为40一种数模混合芯片测试的抗干扰方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN201510846846.12015-11-30CN106814299A2017-06-09武平、孙昕、何超、石志刚41探针台MAP文件转换方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN201510785753.22015-11-17CN106709099B2022-01-18周乃新、石志刚、孙昕42利用测试程序防止晶圆Map图移位的方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201510542185.32015-08-31CN106483444A2017-03-08杨颖超、李亮、李鑫、金兰43一种防止晶圆Map图移位的方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN201510535712.82015-08-28CN106483443B2019-12-24李亮、杨颖超、李鑫44用INI实现集成电路测试管理系统权限管理发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201410605131.22014-11-03CN105656642A2016-06-08周乃新、石志刚45一种集成电路低温测试方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201410605024.X2014-11-03CN105891696A2016-08-24武平、孙昕、石志刚、何超46防止测试机系统时间被非法修改的方法发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201410582998.02014-10-28CN105893000A2016-08-24周乃新、石志刚47用INI文件实现测试管理系统流程控制发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201410579151.72014-10-27CN105527940A2016-04-27周乃新、石志刚48一种晶圆测试过程中的拾片文件的自动生成方法发明专利专利权的终止、授权、实质审查的生效、公布CN201410143264.22014-04-11CN104715101B2018-07-24金兰、石志刚、杨振宇49一种数模混合芯片晶圆级测试的探卡公板实用新型专利权的终止、授权CN201320860520.02013-12-25CN203658400U2014-06-18孙昕、石志刚、武平、何超50一种半导体直流参数测量模块组快速校准装置发明专利发明专利申请公布后的视为撤回、实质审查的生效、发明专利申请公布CN201210529785.22012-12-11CN102998646A2013-03-27石志刚、孙昕、金兰、吉国凡