北京
国家知识产权局信息显示，太一量生（上海）量子科技有限公司申请一项名为“曝光时长确定方法及量子态荧光检测方法和系统”的专利，公开号CN122780707A，申请日期为2026年8月。
专利摘要显示，提供了一种曝光时长确定方法及量子态荧光检测方法和系统。该曝光时长确定方法包括：针对预定分类阈值分别确定虚警样本的观测错误数、漏检样本的观测错误数及各自样本数目，并在置信水平下分别计算虚警率和漏检率的统计置信上界；获取与每个曝光时长对应的具有量子态真值标签的标定样本图像；将所述标定样本图像按照曝光时长递增顺序输入标定图像量子态检测模型；以及，按照预定搜索顺序，确定虚警率统计置信上界和漏检率统计置信上界分别不大于各自目标错误率上界的候选曝光时长，以获得所述曝光时长。这样，可在统计验收参数和验证条件下确定曝光时长，并对硬件变更后的标定结果保持可追溯性。
天眼查资料显示，太一量生（上海）量子科技有限公司，成立于2026年，位于上海市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本444.6664万人民币。通过天眼查大数据分析，太一量生（上海）量子科技有限公司共对外投资了2家企业，专利信息3条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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